在寻求一些问题的答案时走投无路,经老师指点特来论坛询问几个问题,非常感谢。
问题与2023(第五届)集成电路EDA设计精英挑战赛
赛题高度相关,赛题文档:
https://edaoss.icisc.cn/file/cacheFile/2024/1/31/b580b148ce204be8b2a60f805904cb60.pdf
首先第一个问题是比赛中的原始FAN_ATPG算法的最早提出人是H. Fujiwara么,该算法是出自《On the Acceleration of Test Generation Algorithms
》么,文献链接为:https://ieeexplore.ieee.org/document/1676174/authors#authors
搜到的佐证:
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第二个问题是我无法确定这份代码的思想的出处,是谁提出的,我需要用到的其中一个用于对比的算法。
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此外我在一些论文里看到了原始单线程算法或者是多线程算法踪迹但作者并没有给出源头如:
图片5
中的该方法基于一个简单的单线程过程
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作者列出了这两个方法,我却无法通过直接搜索名字找到源头
论文名称《Exploiting Shared-Memory to Steer Scalability of Fault Simulation Using Multicore Systems》,文献链接:
https://ieeexplore.ieee.org/abstract/document/8410458/
此外在近期的一篇文章《High-Performance Parallel Fault Simulation for Multi-Core Systems》,文献链接:https://ieeexplore.ieee.org/abstract/document/9407197中算法思路与提供的算法思路较为相近。
希望老师能对如何找到算法思想的出处提供一些建议。非常感谢
第三个问题是
hisilicon-2024-master\FAN_ATPG_demo\FAN_ATPG_demo\FAN_ATPG_EX\test_cases提供的9个案例是由EDA(电子设计自动化)工具中的ATPG模块自动化生成的么。
赛题指南上的链接:
https://github.com/NTU-LaDS-II/FAN_ATPG
EDA侠客岛上的链接:(根据赛方提示在这里下载的文件)
https://gitee.com/eda2_xiakedao/hisilicon-2024
再次对各位老师的帮助表示十分感激。
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